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■［出展］
SEMICON Japan2011 へ
出展しました。ご来場有り難うございました。
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- 2011/12/7(Wed)-9(Fri) 幕張メッセ
- Hall 5； Booth 5C-704
- 実機展示：
『３波長ワンショット表面形状測定装置MW-500』（新製品）
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写真は、実機展示した「インクジェット方式カラーフィルタ基板塗布高さ測定装置」です。
防振機構が不要で、装置を手で叩いて振動を与えても、問題なく測定されることが注目を浴びました。
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■［受賞］『外観検査アルゴリズムコンテスト2011』で細胞内ロジスティクス賞を受賞
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『外観検査アルゴリズムコンテスト2011』（主催：精密工学会
画像応用技術専門委員会）が開催され、弊社エレクトロニクス事業本部開発センターの技術者が
「細胞内ロジスティクス賞」を受賞し、12月8日のViEW会場で表彰されました。
細胞内ロジスティクス賞は、「成績が良くユニークなアルゴリズム」に対して贈られる賞です。
アルゴリズム名：細胞内粒子検出およびクラスタリング手法〜放射状2値化と領域成長による領域抽出を用いた粒子検出およびクラスタリング手法〜
受賞者：大久保憲治，坪井辰彦，小林央，大美英一，久世康之，中根隆雄 |
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■［講演］
以下の講演が行われました。
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- 「キャリア縞導入の不要なワンショット干渉計測法」、ViEW2011
ビジョン技術の実利用ワークショップ、（2011.12.9;
パシフィコ横浜)
- 「ワンショット干渉計測
―過去・現在・未来―」、精密工学会画像応用技術専門委員会研究会、
(2011.11.11; 東京電機大学)
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■［受賞］
第31回精密工学会技術賞受賞
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当社開発の多波長ワンショット干渉計測技術が、社団法人精密工学会より2011年度（第31回）精密工学会技術賞を受賞しました。
精密工学会技術賞は精密工学の領域で創造的業績をあげた研究者・技術者に対して、その精進と努力に報い、かつ将来の発展を期待して贈られる賞です。[精密工学会技術賞受賞記録] NEW
受賞テーマ：多波長ワンショット干渉計測技術の開発と実用化
受賞者：
（東レエンジニアリング）北川克一、坪井辰彦
（東レ）杉原洋樹
（東京工業大学）杉山将
（東京福祉大学）小川英光詳細はこちら（本社サイトのニュース）
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■［講演］
以下の講演が行われました。
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■［講演］
以下の講演が行われました。
- シンポジウム『光形状計測技術の最新動向』講演：「東レエンジニアリングにおける干渉計測技術」、精密工学会2011年秋季大会学術講演会、（2011.9.20;
金沢大学)
- 「３波長位相シフト法による光干渉方式表面形状測定装置の開発」，精密工学会2011年秋季大会学術講演会、（2011.9.22;
金沢大学)
- 「リアルタイム３波長ワンショット干渉計測法の開発」，同上
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■［講演］
以下の講演が行われました。
- "Multi-wavelength
single-shot interferometry without
carrier fringe introduction", 10th
International Conference on Quality
Control by Artificial Vision (QCAV2011)
[Saint-Etienne, France] （2011.6.28）
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■［講演］
以下の講演が行われました。
- 「画像処理による目視検査自動化30年」、(社)
日本非破壊検査協会主催学術セミナー、（2011.6.21）
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■［講演］
以下の講演が行われる予定でしたが、開催中止になりました。
- キーノート講演「ワンショット干渉計測−過去・現在・未来−」、精密工学会2011年春季大会学術講演会、（2011.3.15;
東洋大学)
- 「ワンショット表面形状測定における局所モデル適合法のパラメータ自動最適化」，同上
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■［講演］
以下の講演が行われました。
- 特別講演「画像処理技術の開発と事業化−東レグループにおける３０年−」、第３５回メカトロニクスフォーラム、（2011.3.9;
香川大学）
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■［記事掲載］ 以下の論文2編が、計測自動制御学会の会誌「計測と制御」2月号（特集
最新の光学形状計測と産業への応用）に掲載されました。また、弊社表面形状測定装置SP-500により測定した3D画像が表紙を飾っています。
- 解説「光干渉法による三次元計測」、計測と制御、Vol.50
No.2、特集号
最新の光学形状計測と産業への応用
(2011)
- 事例紹介「半導体・液晶プロセスにおける光干渉計測の応用」、同上
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